Моделирование тепловых и термомеханических эффектов в элементах микросхем для построения бортовой аппаратуры управления летательных аппаратов

Ю. К. Фортинский

Аннотация


Рассмотрены модели возникновения тепловых и термомеханических эффектов от воздействия рентгеновского излучения. С их помощью определяются величина температуры разогрева и численное значение напряжения в элементах конструкции микросхем.


Ключ. слова


Радиация; рентгеновское излучение; тепловые эффекты; термомеханические эффекты; температура; напряжение; стойкость; радиационные отказы

Полный текст:

PDF

Список литературы

1. Ачкасов, В. Н. Разработка средств автоматизации проектирования специализированных микросхем для управляющих вычислительных комплексов двойного назначения [Текст] / В.Н. Ачкасов, В.М. Антимиров, В.Е. Межов, В.К. Зольников. - Воронеж: Воронеж. гос. ун-т, 2005. - 240 с.

2. Фортинский, Ю. К. Автоматизация управления и проектирования в электронной промышленности [Текст] / Ю.К. Фортинский, В.Е. Межов, В.К. Зольников, П.П. Куцько. -Воронеж: Воронеж. гос. ун-т, 2007. - 275 с.

Ссылки

  • Ссылки не определены.


© Вестник СГАУ, 2015

 

Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 International License.

 

ISSN: 2541-7533