Устранение погрешности определения параметров микрорельефа оптико-электроными средствами на основе применения корреляционного алгоритма


Цитировать

Полный текст

Аннотация

В статье рассматривается метод компенсации дополнительной погрешности измерения оптико-электронными средствами параметров микрорельефа поверхности, которая возникает вследствие отклонения уровня светового потока от его номинального значения. Метод основывается на определении автокорреляционных функций по изображениям анализируемых поверхностей.

Об авторах

А. Д. Абрамов

Самарский государственный технический университет

Автор, ответственный за переписку.
Email: Esib@Samgtu.ru

Кандидат технических наук

Доцент кафедры «Электронные системы и информационная безопасность»

Япония

Ф. Ф. Буканов

Самарский государственный технический университет

Email: Esib@Samgtu.ru

Кандидат технических наук

Заведующий кафедрой «Электронные системы и информационная безопасность»

Россия

Список литературы

  1. Суслов А.Г., Корсакова И.М. Назначение, обозначение и контроль параметров шероховатости поверхностей деталей машин. Учеб. пособие для вузов. М.: МГИУ, 2010. 111 с.
  2. Абрамов А.Д. Определение микрогеометрии поверхности деталей машин и механизмов на основе компьютерной обработки их видеоизображений. Вестник компьютерных и информационных технологий. №11, 2008. С. 18-25.
  3. Шабалдин Е.Д., Смолин Г.К., Уткин В.П., Зарубин А.П. Метрология и электрические измерения. Учеб. пособие для вузов. Екатеринбург. Изд-во ГОУ ВПО “Рос. гос. проф.-пед. ун-т”, 2006. 282 с.
  4. Баскаков С.И. Радиотехнические цепи и сигналы. М.: Высшая школа, 2003. 462 с.
  5. Даджион Д., Мерсеро Р. Цифровая обработка многомерных сигналов. М.: Мир, 1988. 488 с.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
Скачать

© Вестник СГАУ, 2015

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах