Email this article The effect of docking defects on a metal-dielectric shielded waveguide in the EHF frequency range - PDF (Russian)
Copyright (c) 2023 Krutskikh V.V., Ushkov A.N., Chernikov A.I., Zavitaev D.O., Mirzoyan A.E.
This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
СМИ зарегистрировано Федеральной службой по надзору в сфере связи, информационных технологий и массовых коммуникаций (Роскомнадзор).
Регистрационный номер и дата принятия решения о регистрации СМИ: серия ФС 77 - 68199 от 27.12.2016.
Регистрационный номер и дата принятия решения о регистрации СМИ: серия ФС 77 - 68199 от 27.12.2016.