Отправить статью по E-mail 
Архитектура отказоустойчивого запоминающего устройства для бортовых систем управления летательными аппаратами
- Авторы: Евдокимов А.1, Назаров А.2, Рябцев В.1
-
Учреждения:
- Волгоградский государственный аграрный университет
- Самарский национальный исследовательский университет им. акад. С.П. Королева
- Выпуск: Том 20, № 2 (2017)
- Страницы: 47-54
- Раздел: Статьи
- URL: https://journals.ssau.ru/pwp/article/view/7097
- ID: 7097
Цитировать
Полный текст
Аннотация
В статье решается задача повышения коэффициента технической готовности модулей памяти, значение которого возрастает при уменьшении времени восстановления системы управления при отказе входящих в нее устройств. Предлагается структура модулей памяти со встроенными средствами самотестирования и восстановления работоспособности, что позволит выполнить автоматическую замену разрядов данных основного массива запоминающих ячеек, в которых произошли отказы, на данные, поступающие с выходов запасного массива запоминающих ячеек. Автоматическую реконфигурацию модуля памяти при обнаружении отказа обеспечивают предлагаемые аппаратные и программные средства.
Об авторах
А.П. Евдокимов
Волгоградский государственный аграрный университет
Автор, ответственный за переписку.
Email: apevdokimov@yandex.ru
А.А. Назаров
Самарский национальный исследовательский университет им. акад. С.П. Королева
Email: kipres@ssau.ru
В.Г. Рябцев
Волгоградский государственный аграрный университет
Email: akim.onoke@mail.ru
Список литературы
- Мишанов Р.О., Пиганов М.Н. Исследовательские испытания интегральных микросхем // Известия Самарского научного центра РАН. 2017. Т. 18. № 4(7). С. 1406-1409.Анализ причин низкой надежности и установка диагностического неразрушающегося контроля интегральных стабилизаторов / Р.О. Мишанов [и др.] // Сборник научных трудов SWorld. 2015. Т. 3. Вып. 1(38). С. 42-48.Способ диагностического неразрушающего контроля микросхем КМОП-типа / М.Н. Пиганов [и др.] // Сборник научных трудов SWorld. 2014. Т. 5. Вып. 3(36). С. 65-72.Piganov M.N., Mishanov R.O. Technology of diagnostic for non-destructive control of the bipolar integrated circuits // 2nd International scientific symposium «Sense. Enable. SPITSE. 2015»: Symposium Proceedings. St. Petersburg. 2015. P. 38-41.Apparatus diagnostic for non-destructive control chip CMOS-type / S.V. Tyulevin [et al.] // European science and technology: materials of the VIII international research and practice conference. Germany, Munich, 2014. P. 398-401.Piganov M., Tyulevin S., Erantseva E. Individual prognosis of quality indicators of space equipment elements // The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics (CADSM 2015): Proceeding XIII International Conference. Ukraine, Lviv. 2015. P. 367-371.Mishanov R., Piganov M. Individual forecasting of quality characteristics by an extrapolation method for the stabilitrons and the integrates circuits // The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics (CADSM 2015): Proceedings XIII International Conference. Ukraine, Lviv. 2015. P. 242-244.Тюлевин С.В., Пиганов М.Н., Еранцева Е.С. К проблеме прогнозирования показателей качества элементов космической аппаратуры // Надежность и качество сложных систем. 2014. № 1(5). C. 9-17.Костин А.А., Пиганов М.Н. Расчет помех в цепях бортовой аппаратуры космических аппаратов, вызванных электростатическими разрядами // Известия Самарского научного центра РАН. 2012. Т. 14. № 4(5). С. 1376-1379.Костин А.В., Пиганов М.Н., Бозриков В.С. Экспериментальное исследование, измерение и анализ помех в цепях бортовой аппаратуры космических аппаратов, вызванных электромагнитным полем электростатического разряда // Надежность и качество сложных систем. 2015. № 4(16). С. 46-55.Patent USA. Redundancy Analysis for Embedded Memories with Built-In Self Test and Built-In Self Repair. N6067262, Int.Cl.G11C 7/00. May 23, 2000.Patent USA. Built-In Spare Row and Column Replacement Analysis System for Embedded Memories. N6304989, Int.Cl.G01R 31/28. Oct.16, 2001.Utkina T.Yu., Ryabtsev V.G. Method and mean of computer’s memory reliable work monitoring // Proceeding of IEEE East-West Design & Test Symposium 2009 (EWDTS’09). (Moscow, 18-21 Sep. 2009). Kharkiv: Khnure, 2009. P. 505-512.Architecture of Built-In Self-Test and Recovery Memory Chips / T.Yu. Utkina [et al.] // Proceedings of East-West Design & Test Workshop (EWDTW’2012). (Kharkov, Ukraine, 14-17 Sep. 2012). Kharkov: Khnure, 2012. Р. 307-310.Almadi М.K., Ryabtsev V.G., Utkina T.Yu. Automatic operability restoration of semiconductor memory’s modules during multiple faults // European Journal of Engineering and Technology. 2015. Vol. 3. № 5. Р. 72-79.Almadi M.K., Ryabtsev V.G. Features of decision support’s program at choice of tests optimized sequence for semiconductors memory diagnosing // Radio Electronics & Informatics. 2008. № 1. P. 84-87.Almadi M., Moamar D., Ryabtsev V. New methods and tools for design of tests memory // Proceedings of East-West Design & Test Workshop (EWDTW’10). (Sevastopol, 9-12 Sep. 2011). Kharkiv: Khnure, 2011. Р. 319-325.Almadi M.K., Ryabtsev V.G. New infrastructure for memory tests design // Proceedings of the International Workshop Critical Infrastructure Safety and Security (CrISS-DESSERT 2011). (Kirovograd, 11-13 May 2011). P. 434-440.Almadi M., Moamar D., Ryabtsev V. Methodology of algorithms synthesis of memory test diagnosing // Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium 2010 (EWDTS’10). (St. Petersburg, 17-20 September 2010). P. 366-370.Almadi M.K., Ryabtsev V.G., Kudlaenko V.M. Automation of program’s test designing march FD // Management Information System and Devises. 2006. № 136. P. 71-77.Ryabtsev V.G., Kudlaenko V.M., Movchan Y.U. Method of estimation diagnostic properties of the test family march // Proceeding of East-West & Test International Workshop (EWDTW’04). (Yalta-Alushta, Criema, 23-26 September 2004). P. 220-224.
Дополнительные файлы
