Отправить статью по E-mail 
Технология и методика обучающего эксперимента КМОП-микросхем
- Авторы: Мишанов Р.1
-
Учреждения:
- Самарский национальный исследовательский университет им. акад. С.П. Королева
- Выпуск: Том 21, № 1 (2018)
- Страницы: 38-47
- Раздел: Статьи
- URL: https://journals.ssau.ru/pwp/article/view/7064
- ID: 7064
Цитировать
Полный текст
Аннотация
Рассмотрена методика обучающего эксперимента интегральных микросхем с КМОП-структурой. Проведен анализ конструктивно-технологических особенностей микросхем серии 765. Предложены схемы их включения и измерения основных параметров при проведении обучающего эксперимента. Сделан выбор методов и средств контроля информативных параметров в процессе исследовательских испытаний. Описан процесс выбора объема выборки. Определен подход к разработке программных исследовательских испытаний.
Об авторах
Р.О. Мишанов
Самарский национальный исследовательский университет им. акад. С.П. Королева
Автор, ответственный за переписку.
Email: mishanov91@bk.ru
Список литературы
- Пиганов М.Н. Индивидуальное прогнозирование показателей качества элементов и компонентов микросборок. М.: Новые технологии, 2002. 267 с.Тюлевин С.В., Пиганов М.Н. Методика обучающего эксперимента при индивидуальном прогнозировании показателей качества космических РЭС // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций: материалы всероссийской НТК 13-15 мая 2008 г. Самара: Издательство СГАУ, 2008. С. 239-253.Тюлевин С.В., Пиганов М.Н., Мишанов Р.О. Разработка методики диагностического неразрушающего контроля микросхем // Сборник научных трудов SWorld. 2014. Т. 5. № 4 (37). С. 66-73.Килибаева Ж.К. Анализ отказов и надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем // Молодой ученый. 2014. № 8.1. С. 12-16.Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения / А.И. Белоус [и др.] // Технология конструирования в электронной аппаратуре. 2001. № 4-5. С. 35-37.Mishanov R.O., Tyulevin S.V., Piganov M.N. Analysis of the unreliability reasons and the diagnostic non-destructive testing installation for the integrated stabilizers // SWorld Journal. 2015. J11510-032. P. 179-183.Глудкин О.П. Управление качеством электронных средств. М.: Высшая школа, 1994. 414 с.Карпов О.В. Определение объема выборки при индивидуальном прогнозировании различными методами // ХХIХ Гагаринские чтения: труды международной конференции. М.: МАТИ, 2004. С. 117-119.
Дополнительные файлы
