Отправить статью по E-mail 
Автоматическая измерительная система для исследования полупроводниковых приборных структур - PDF (Русский)
© Горелов Ю., Голубева Д., Курганская Л., Щербак А., 2018
Эта статья доступна по лицензии Creative Commons Attribution 4.0 International License.
СМИ зарегистрировано Федеральной службой по надзору в сфере связи, информационных технологий и массовых коммуникаций (Роскомнадзор).
Регистрационный номер и дата принятия решения о регистрации СМИ: серия ФС 77 - 68199 от 27.12.2016.
Регистрационный номер и дата принятия решения о регистрации СМИ: серия ФС 77 - 68199 от 27.12.2016.