Информация об авторе
Кирш, Д. В.
| Выпуск | Раздел | Название | Файл |
| Том 14, № 3 (2014) | ЭЛЕКТРОНИКА, ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА, РАДИОТЕХНИКА И СВЯЗЬ | Идентификация кристаллических решёток на основе оценивания параметров элементарных ячеек |
 (Rus) |