Моделирование тепловых и термомеханических эффектов в элементах микросхем для построения бортовой аппаратуры управления летательных аппаратов

Обложка

Цитировать

Полный текст

Аннотация

Рассмотрены модели возникновения тепловых и термомеханических эффектов от воздействия рентгеновского излучения. С их помощью определяются величина температуры разогрева и численное значение напряжения в элементах конструкции микросхем.

Об авторах

Ю. К. Фортинский

Воронежская государственная лесотехническая академия

Автор, ответственный за переписку.
Email: wkz@rambler.ru

Кандидат технических наук

Докторант кафедры вычислительной техники и информационных систем

Россия

Список литературы

  1. Ачкасов, В. Н. Разработка средств автоматизации
  2. проектирования специализированных микросхем для управляющих вычислительных комплексов двойного назначения [Текст] / В.Н. Ачкасов, В.М. Антимиров, В.Е. Межов, В.К. Зольников. - Воронеж: Воронеж. гос. ун-т, 2005. - 240 с.
  3. Фортинский, Ю. К. Автоматизация управления и проектирования в электронной промышленности [Текст] / Ю.К. Фортинский, В.Е. Межов, В.К. Зольников, П.П. Куцько. -Воронеж: Воронеж. гос. ун-т, 2007. - 275 с.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Вестник СГАУ, 2015

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах