Отправить статью по E-mail 
Методика прогнозирования показателей качества полупроводниковых диодов
- Авторы: Козлова И.Н.1, Тюлевин С.В.1, Токарева А.В.1
-
Учреждения:
- Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королёва (национальный исследовательский университет)
- Выпуск: Том 10, № 7 (2011)
- Страницы: 87-91
- Раздел: ВЫПУСК БЕЗ РАЗДЕЛОВ
- URL: https://journals.ssau.ru/vestnik/article/view/2961
- DOI: https://doi.org/10.18287/2541-7533-2011-0-7(31)-87-91
- ID: 2961
Цитировать
Полный текст
Аннотация
Приведена методика индивидуального прогнозирования (ИП) полупроводниковых приборов методом экстраполяции. Рассмотрены вопросы выбора квазидетерминированных моделей. Для определения параметров моделей использован метод наименьших квадратов. Получена прогнозная модель надёжности диодов. Приведены результаты исследования и анализа модели. Предложены варианты повышения точности прогнозирования.
Ключевые слова
Об авторах
И. Н. Козлова
Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королёва (национальный исследовательский университет)
Автор, ответственный за переписку.
Email: kipres@ssau.ru
Аспирант
РоссияС. В. Тюлевин
Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королёва (национальный исследовательский университет)
Email: kipres@ssau.ru
Кандидат технических наук
Доцент кафедры конструирования и производства радиоэлектронных средств
А. В. Токарева
Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королёва (национальный исследовательский университет)
Email: kipres@ssau.ru
Аспирант
РоссияСписок литературы
- Кейджян, Г. А. Прогнозирование надежности микроэлектронной аппаратуры на основе БИС [Текст] / Г. А.Кейджян. – М.: Радио и связь, 1987. – 152 с.
- Пиганов, М. Н. Технологические основы обеспечения качества микросборок [Текст] / М. Н. Пиганов. – Самара: СГАУ, 1999. – 231 с.
- Пиганов, М. Н. Индивидуальное прогнозирование показателей качества элементов и компонентов микросборок [Текст] / М. Н. Пиганов. – М.: Новые технологии, 2002. – 267 с.
- Пиганов, М. Н. Прогнозирование надежности радиоэлектронных средств [Текст] / М. Н. Пиганов, С. В. Тюлевин // Научно-технические ведомости СПбГПУ. Информатика. Телекоммуникации. Управление. – 2009. - № 1 (72). – С. 174-180.
- Тюлевин, С. В. Структурная модель индивидуального прогнозирования параметров космической аппаратуры [Текст] / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов // Вестник Самарского государственного аэрокосмического университета. – 2008. - № 1. – С. 92-96.
- Андреева, В. В. Индивидуальное прогнозирование стабильности прецизионных тонкопленочных конденсаторов на основе алюмината неодима [Текст] / В. В. Андреева, М. Н. Пиганов, В. Н. Роюк, Г. Ю. Скоморохов // Электронная техника. Сер. «Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания». – 1980. – Вып.4. – С. 10-12.
- Тюлевин, С. В. Выбор методов индивидуального прогнозирования показателей качества РЭС на основе экспертных оценок [Текст] / С. В. Тюлевин, И. Н. Козлова // Современные направления теоретических и прикладных исследований – 2009: Сборн. научн. тр. по матер. междун. НПК 16 - 27.03.2009. – Т.4. – Украина, Одесса: Черноморье, 2009. – С. 25-28.
- Андреева, В. В. Индивидуальное прогнозирование стабильности прецизионных тонкопленочных конденсаторов [Текст] / В. В. Андреева, М. Н. Пиганов, Г. Ю. Скоморохов // Микроминиатюризация радиоэлектронных устройств: Межвуз. сб. – Рязань: РРТИ, 1980. – Вып.3. – С. 72-76.
- Андреева, В. В. Индивидуальное прогнозирование экстраполяцией стабильности тонкопленочных резисторов [Текст] / В.В. Андреева, М. Н. Пиганов, А. И. Беляков // Микроминиатюризация радиоэлектронных устройств: Межвуз. сб. – Рязань: РРТИ, 1981. – Вып.4. – С. 123-127.
- Тюлевин, С. В. Методика обучающего эксперимента при индивидуальном прогнозировании показателей качества космических РЭС [Текст] / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций: Материалы всероссийской НТК 13-15 мая 2008. г. Самара. – Самара: Издательство СГАУ, 2008. – С. 239-253.
Дополнительные файлы
