Отправить статью по E-mail 
Анализ эффективности прогнозных моделей параметров качества микросхем
- Авторы: Тюлевин С.В.1, Архипов А.И.1, Пиганов М.Н.1, Елизаров С.В.1
-
Учреждения:
- Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королёва (национальный исследовательский университет)
- Выпуск: Том 10, № 7 (2011)
- Страницы: 58-63
- Раздел: ВЫПУСК БЕЗ РАЗДЕЛОВ
- URL: https://journals.ssau.ru/vestnik/article/view/2955
- DOI: https://doi.org/10.18287/2541-7533-2011-0-7(31)-58-63
- ID: 2955
Цитировать
Полный текст
Аннотация
Предложена методика оценки результатов обучающего эксперимента и эффективности прогнозных моделей. В качестве основных критериев эффективности предложены вероятности правильных и ошибочных решений, риски потребителя и изготовителя. Проводится анализ эффективности математических моделей прогнозирования параметров качества микросхем КМОП типа, используемых в космической аппаратуре.
Об авторах
С. В. Тюлевин
Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королёва (национальный исследовательский университет)
Автор, ответственный за переписку.
Email: kipres@ssau.ru
Кандидат технических наук
Доцент кафедры конструирования и производства радиоэлектронных средств
А. И. Архипов
Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королёва (национальный исследовательский университет)
Email: kipres@ssau.ru
Аспирант кафедры конструирования и производства радиоэлектронных средств
РоссияМ. Н. Пиганов
Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королёва (национальный исследовательский университет)
Email: piganov@ssau.ru
Доктор технических наук, профессор
Заведующий кафедрой конструирования и производства радиоэлектронных средств
С. В. Елизаров
Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королёва (национальный исследовательский университет)
Email: kipres@ssau.ru
Аспирант кафедры конструирования и производства радиоэлектронных средств
РоссияСписок литературы
- Кейджян Г.А. Прогнозирование надёжности микроэлектронной аппаратуры на основе БИС. М.: Радио и связь, 1987. 152 с.
- Гаскаров Д.В.,
- Голинкевич Т.А., Мозгалевский А.В. Прогнозирование технического состояния и надёжности радиоэлектронной аппаратуры М.: Сов. Радио, 1974. 224 с.
- Пиганов М.Н. Индивидуальное прогнозирование показателей качества элементов и компонентов микросборок.
- М.: Новые технологии, 2002. 267 с.
- Пиганов М.Н., Тюлевин С.В. Прогнозирование надёжности радиоэлектронных средств // Научно-технические ведомости СПбГПУ. Информатика. Телекоммуникации. Управление. 2009. №1 (72). С. 174-180.
- Тюлевин С.В., Пиганов М.Н. Структурная модель индивидуального прогнозирования параметров космической аппаратуры // Вестник Самарского государственного аэрокосмического университета. 2008. № 1. С. 92-96.
- Пиганов М.Н. Индивидуальное прогнозироване показателей качества элементов микросборок. Самара: изд-во СГАУ, 1999. 160 с.
- Пиганов М.Н. Технологические основы обеспечения качества микросборок. Самара: изд-во СГАУ, 1999. 231 с.
Дополнительные файлы
