Идентификация кристаллических решёток на основе оценивания параметров элементарных ячеек
- Авторы: Кирш Д.В.1
-
Учреждения:
- Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королёва (национальный исследовательский университет)
- Выпуск: Том 14, № 3 (2014)
- Страницы: 130-137
- Раздел: ЭЛЕКТРОНИКА, ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА, РАДИОТЕХНИКА И СВЯЗЬ
- URL: https://journals.ssau.ru/vestnik/article/view/2081
- DOI: https://doi.org/10.18287/1998-6629-2014-0-3(45)-130-137
- ID: 2081
Цитировать
Полный текст
Аннотация
В статье рассматривается задача идентификации кристаллических решёток, представленных набором узлов в трёхмерном пространстве. Для решения задачи разработаны два инвариантных к расположению решётки в пространстве метода идентификации на основе оценивания параметров элементарных ячеек. Первый метод основан на вычислении и сравнении шести основных параметров элементарной ячейки Браве: трёх длин сторон ячейки и трёх величин углов между сторонами. Второй метод основан на вычислении и сравнении объёмов ячеек Вигнера–Зейтца с помощью метода Монте–Карло. В обоих методах введены нормированные меры схожести для вычисленных параметров: меры схожести сторон и углов для элементарных ячеек Браве и мера схожести объёмов для ячеек Вигнера–Зейтца. С использованием разработанных методов был проведён ряд вычислительных экспериментов по идентификации кристаллических решёток. В ходе экспериментов были определены, во-первых, зависимость точности определения объёма ячейки Вигнера–Зейтца от количества вбрасываемых точек, и во-вторых, вероятности точной идентификации решёток основных систем решёток Браве при сравнении различных наборов оценённых параметров. Основным результатом проведённых экспериментов стало преодоление рубежа в 95 % точности идентификации сразу для четырёх систем решёток Браве.
Об авторах
Д. В. Кирш
Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королёва (национальный исследовательский университет)
Автор, ответственный за переписку.
Email: limitk@mail.ru
Магистрант
РоссияСписок литературы
- Куприянов А.В. Анализ текстур и определение типа кристаллической решётки на наномасштабных изображениях // Компьютерная оптика. 2011. Т. 35, № 2. С. 157-157.
- Tilley R.J.D. Crystals and crystal structures. Chichester: John Wiley & Sons Ltd, 2006. P. 17-32.
- Куприянов А.В. Оценка меры схожести кристаллических решёток по координатам их узлов в трёхмерном пространстве // Компьютерная оптика. 2012. Т. 36, № 4. С. 590-595.