Исследование нагрузочной способности микросхем


Цитировать

Полный текст

Аннотация

В статье авторы предложили новое устройство для определения нагрузочной способности микросхем. Устройство для определения нагрузочной способности микросхем относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве. Устройство содержит генератор прямоугольного напряжения, испытуемую микросхему, повторитель, элементы нагрузки, коммутатор, элемент И, компаратор, счетчик импульсов, источник опорного напряжения, одновибратор, реверсивный счетчик импульсов, дешифратор, индикатор. Техническим результатом при реализации заявленного решения являются повышение точности и достоверность определения нагрузочной способности микросхем; преимуществами устройства по сравнению с известными – возможность работы с микросхемами серий ТТЛ, ТТЛШ и МОП, определение нагрузочной способности микросхем в двух режимах работы без изменения состава его блоков, обеспечение автоматического режима работы и адаптированность к смене испытуемых микросхем и элементов нагрузки 8-1…8-k.

Об авторах

Е.С. Еранцева

Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева

Автор, ответственный за переписку.
Email: kipres@ssau.ru

Г.П. Шопин

Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева

Email: piganov@ssau.ru

М.Н. Пиганов 

Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева

Email: piganov@ssau.ru

В.С. Андрусенко

Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева

Email: kipres@ssau.ru

Список литературы

  1. Тюлевин С.В., Пиганов М.Н. Методика и установка диагностического контроля полупроводниковых диодов // Современные направления теоретических и прикладных исследований: сб. науч. тр. по мат-лам междунар. конф. Одесса, 2008. Т. 4. С. 62–67.
  2. Сергеев В.А., Тетенькин Я.Г. Измерение теплового сопротивления цифровых интегральных схем по изменению частоты колебаний кольцевого генератора // Измерительная техника. 2018. № 2. С. 46–50. DOI: https://doi.org/10.32446/0368-1025it.2018-2-46-50.
  3. Forecasting models generation of the electronic means quality / R.O. Mishanov [et al.] // CEUR Workshop Proceedings. 2017. Vol. 1904. P. 124–129.
  4. Сергеев В.А., Тетенькин Я.Г. Определение тепловых параметров цифровых микросхем по температурным зависимостям времени задержки сигнала // Автоматизация процессов управления. 2015. № 3 (41). С. 89–96.
  5. Тюлевин С.В., Пиганов М.Н., Еранцева Е.С. К проблеме прогнозирования показателей качества элементов космической аппаратуры // Надежность и качество сложных систем. 2014. № 1 (5). C. 9–17.
  6. Сергеев В.А., Юдин В.В. Контроль качества цифровых интегральных микросхем по параметрам матрицы тепловой связи // Известия вузов. Электроника. 2009. № 6. С. 72–78.
  7. Piganov M.N., Mishanov R.O. Technology of diagnostic for non-destructive control of the bipolar integrated circuits // 2nd International Scientific Symposium «Sense. Enable. SPITSE. 2015»: Symposium Proceedings. Saint Petersburg, 2015. P. 38–41.
  8. Mishanov R.O., Piganov M.N. Individual forecasting of quality characteristics by an extrapolation method for the stabilitrons and the integrates circuits // The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics (CADSM 2015): Proceedings XIII International conference. Ukraine, Lviv, 2015. P. 242–244. DOI: https://doi.org/10.1109/CADSM.2015.7230846.
  9. Федоров В.К., Сергеев Н.П., Кондрашин А.А. Контроль и испытания в проектировании и производстве радиоэлектронных средств. М.: Техносфера, 2015. 504 с.
  10. Apparatus diagnostic for non-destructive control chip CMOS-Type / S.V. Tyulevin [et al.] // European Science and Technology: Materials of the VIII International Research and Practice Conference. Germany, Munich, 2014. P. 398–401.
  11. Piganov M.N., Tyulevin S.V., Erantseva E.S. Individual prognosis of quality indicators of space equipment elements // The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics (CADSM 2015): Proceeding XIII International Conference. Ukraine, Lviv, 2015. P. 367–371. DOI: https://doi.org/10.1109/CADSM.2015.7230878.
  12. Устройство для определения нагрузочной способности микросхем / М.Н. Пиганов [и др.]: патент РФ № 2613573; заявл. 28.10.2015; опубл. 17.03.2017; бюл. № 8.
  13. Устройство для определения нагрузочной способности микросхем / М.Н. Пиганов [и др.]: патент РФ № 2613568; заявл. 14.12.2015; опубл. 17.03.2017; бюл. № 8.
  14. Разработка устройства для определения нагрузочной способности микросхем / С.В. Тюлевин [и др.] // Физика волновых процессов и радиотехнические системы. 2017. Т. 20, № 1. С. 49–52.
  15. Устройство для определения нагрузочной способности микросхем / М.Н. Пиганов [и др.]: патент РФ № 2723968; заявл. 02.07.2019; опубл. 18.06.2020; бюл. № 17.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
Скачать

© Еранцева Е., Шопин Г., Пиганов  М., Андрусенко В., 2020

Creative Commons License
Эта статья доступна по лицензии Creative Commons Attribution 4.0 International License.
СМИ зарегистрировано Федеральной службой по надзору в сфере связи, информационных технологий и массовых коммуникаций (Роскомнадзор).
Регистрационный номер и дата принятия решения о регистрации СМИ: серия ФС 77 - 68199 от 27.12.2016.

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах