Отправить статью по E-mail 
Определение и оценка прогнозных моделей качества для интегральных микросхем с использованием теории распознавания образов
- Авторы: Еранцева Е.1, Пиганов М.1, Мишанов Р.1, Денисюк А.1
-
Учреждения:
- Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева
- Выпуск: Том 23, № 2 (2020)
- Страницы: 76-80
- Раздел: Статьи
- URL: https://journals.ssau.ru/pwp/article/view/7953
- DOI: https://doi.org/10.18469/1810-3189.2020.23.2.76-80
- ID: 7953
Цитировать
Полный текст
Аннотация
В статье рассмотрена методика прогнозных моделей интегральных микросхем серии 564 на основе методов теории распознавания образов. Для построения моделей были использованы методы регрессионных моделей и дискриминантных функций. Проведено исследование полученных прогнозных моделей. Определены оптимальные значения порога дискриминантной и регрессионной функций. Оценены значения вероятности ошибочных решений, а также рисков потребителя и изготовителя.
Об авторах
Е.С. Еранцева
Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева
Автор, ответственный за переписку.
Email: kipres@ssau.ru
М.Н. Пиганов
Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева
Email: piganov@ssau.ru
Р.О. Мишанов
Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева
Email: mishanov91@bk.ru
А.А. Денисюк
Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева
Email: mikki90210@yandex.ru
Список литературы
- Электрофизическое диагностирование элементов радиоэлектронной аппаратуры / под ред. В.П. Бережного. М.: ЦНИИ «Электроника», 1990. 304 с.Жаднов В.В. Прогнозирование надежности электронных средств с механическими элементами. Екатеринбург: ООО «Форт Диалог – Исеть», 2014. 172 с.Лучино А.И., Савина А.С. Исследование возможности индивидуального прогнозирования долговечности транзисторов методом распознавания образов // Электронная техника. Сер. 8. 1976. Вып. 10. С. 3–9.Тюлевин С.В., Пиганов М.Н., Еранцева Е.С. К проблеме прогнозирования показателей качества элементов космической аппаратуры // Надежность и качество сложных систем. 2014. № 1 (5). C. 9–17.Mishanov R., Piganov M. Individual forecasting of quality characteristics by an extrapolation method for the stabilitrons and the integrated circuits // The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics (CADSM 2015): Proceeding XIII international conference. Ukraine: Lviv, 2015. P. 242–244. DOI: https://doi.org/10.1109/CADSM.2015.7230846.Сергеев В.А., Юдин В.В. Контроль качества цифровых интегральных микросхем по параметрам матрицы тепловой связи // Известия вузов. Электроника. 2009. № 6. С. 72–78.Устройство для отбраковки полупроводниковых диодов / С.В. Тюлевин [и др.] // Вестник СГАУ. 2014. № 2 (44). С. 68–73.Пиганов М.Н. Индивидуальное прогнозирование показателей качества элементов и компонентов микросборок. М.: Новые технологии, 2002. 267 с.Пестряков В.Б., Андреева В.В. Индивидуальное прогнозирование состояния РЭА с использованием теории распознавания образов: учебное пособие. Куйбышев: КуАИ, 1980. 82 с.
Дополнительные файлы
