Влияние обратной связи на радиус сходимости рядов Вольтерры

Показан деструктивный характер влияния как внешней, так и внутренней обратной связи на сходимость итерационного процесса при нахождении ядер Вольтерры сильно нелинейных электронных схем. Исследовано местоположение критических точек, в которых система теряет аналитические свойства, а ряды Вольтерры начинают расходиться. Продемонстрировано, что в одних случаях критические точки располагаются в области глубокой нелинейности, а в других случаях они непосредственно примыкают к слабо нелинейному режиму. Установлено, что срыв итерационного процесса происходит и при отрицательной, и при положительной обратной связи, однако последняя ограничивает радиус сходимости рядов Вольтерры в гораздо большей степени.