Анализ эффективности прогнозных моделей параметров качества микросхем

С. В. Тюлевин, А. И. Архипов, М. Н. Пиганов, С. В. Елизаров

Аннотация


Предложена методика оценки результатов обучающего эксперимента и эффективности прогнозных моделей. В качестве основных критериев эффективности предложены вероятности правильных и ошибочных решений, риски потребителя и изготовителя. Проводится анализ эффективности математических моделей прогнозирования параметров качества микросхем КМОП типа, используемых в космической аппаратуре.


Ключ. слова


Прогнозирование; показатели эффективности; микросхема; прогнозная модель; обучающий эксперимент; вероятность ошибки

Полный текст:

PDF

Список литературы

1. Кейджян Г.А. Прогнозирование надёжности микроэлектронной аппаратуры на основе БИС. М.: Радио и связь, 1987. 152 с.

2. Гаскаров Д.В., Голинкевич Т.А., Мозгалевский А.В. Прогнозирование технического состояния и надёжности радиоэлектронной аппаратуры М.: Сов. Радио, 1974. 224 с.

3. Пиганов М.Н. Индивидуальное прогнозирование показателей качества элементов и компонентов микросборок. М.: Новые технологии, 2002. 267 с.

4. Пиганов М.Н., Тюлевин С.В. Прогнозирование надёжности радиоэлектронных средств // Научно-технические ведомости СПбГПУ. Информатика. Телекоммуникации. Управление. 2009. №1 (72). С. 174-180.

5. Тюлевин С.В., Пиганов М.Н. Структурная модель индивидуального прогнозирования параметров космической аппаратуры // Вестник Самарского государственного аэрокосмического университета. 2008. № 1. С. 92-96.

6. Пиганов М.Н. Индивидуальное прогнозироване показателей качества элементов микросборок. Самара: изд-во СГАУ, 1999. 160 с.

7. Пиганов М.Н. Технологические основы обеспечения качества микросборок. Самара: изд-во СГАУ, 1999. 231 с.

Ссылки

  • Ссылки не определены.


 

Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 International License.

 

ISSN: 2541-7533